11° Rencontres Scientifiques et Techniques d'ARCSIS du 20 au 21 novembre 2008

Les Rencontres Scientifiques et Techniques d'ARCSIS rassemblent depuis onze ans des entreprises et laboratoires français et étrangers sur des sujets pointus répondant aux besoins du marché de la microélectronique.

Ces 11èmes Rencontres seront dédiées au thème : «Contrôle du procédé de fabrication des wafers : méthodes, applications et nouveaux défis» et se dérouleront les 20 et 21 novembre 2008 à STUniversity à Fuveau (France).

Cette année encore, de nombreux représentants internationaux de la filière microélectronique sont attendus, comme Atmel, Continental Automotive, EMSE-CMP, FEI Company, KLA-TEncor, STMicroelectronics, Toppan Photomasks, et bien d'autres... Ils vous présenteront leurs travaux à travers une vingtaine de conférences et une dizaine de posters.

Vous pouvez d'ores et déjà vous inscrire aux Rencontres Scientifiques et Techniques.

Contact : Corinne JOACHIM (ARCSIS) contact@arcsis.org